Thiết bị đo nhiễm xạ bề mặt
Thiết bị đo nhiễm xạ bề mặt
Trạng thái:
Còn hàng
Số lần xem:
3638
Đánh giá SP:
Sử dụng trong nhiều lĩnh vực như công nghiệp hạt nhân, cứu nạn và các hoạt động có liên quan đến nhiễm xạ bất thường
· Phát hiện tia Alpha >2 MeV, beta >100 keV, gamma và tia X năng lượng từ 5 keV đến 1.3 MeV
Thiết bị đo nhiễm xạ bề mặt
Model: RDS80
· Sử dụng trong nhiều lĩnh vực như công nghiệp hạt nhân, cứu nạn và các hoạt động có liên quan đến nhiễm xạ bất thường
· Phát hiện tia Alpha >2 MeV, beta >100 keV, gamma và tia X năng lượng từ 5 keV đến 1.3 MeV
· Dải đo nhiễm xạ bề mặt: 1 đến 100 000 cps hoặc 0.01 đến 1 000 000 Bq/cm2
· Có thể đặt ngưỡng cảnh báo nhiễm xạ
Tải tài liệu kỹ thuật tại đây
